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X射线荧光光谱仪早期照射面积需20毫米以上
发布时间：2020-04-24 09:01:10 点击：4700
在X射线荧光光谱仪出现后，其迅速在各种科研和工业领域得到了广泛的应用。在其发展前期,主要还是应用基本的，随着科技的发展，在一些精度要求较高的领域，例如半导体行业衬底表面的超薄贵金属镀层的检测，痕量贵金属元素的检测等，传统的X射线荧光光谱仪已不能满足人们的需求。
X射线荧光光谱仪早期照射面积需20毫米以上
为了解决这一问题，20世纪70年代出现了针对痕量贵金属检测的偏振XRF(US3944822)和全反射式XRF (DE2727505 AD)C使用偏振XRF分析样品可显著降低康普顿和相干散射信号。全反射XRF可以大大降低本来对痕量分析不利的X射线背景。DE2727505 A1中公开的全反射XRF能够检测硅衬底上的超薄金属镀层。
20世纪90年代，随着人们生活水平的不断提高,各种贵金属产品(例如首饰，珠宝，黄金)的消费需求也逐年增长，与此同时，人们对贵金属产品的质量也越来越关注。此时，市面上已经出现了一批X射线荧光光谱仪，但是上述市场上出售的X射线荧光光谱仪要求被分析的样品应具有平坦而均匀的被照射面积，才能获得可靠而精确的结果。这些光谱仪的照射面积比较大(一般直径20毫米以上)，然而，很多贵金属产品，例如金银项链,铂金钻戒等都比较精致，形状结构复杂，有的还镶嵌珠宝或其他合金，因此，使用这类X射线荧光光谱仪难以对首饰等贵金属产品进行可靠的分析。
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