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X荧光光谱仪的多种样品检测方法

发布时间:2022-12-05 08:51:12         点击:2286

       X荧光光谱仪是一款可应用于多种类样品检测的仪器,无论对于固体、液体、粉尘、气体等均可以进行有效分析。其进行样品检测的方式是怎么样的呢?

       样品制备X射线荧光光谱法是一种表面分析办法,必需注重分析面相对于囫囵样品是否具有代表性,样品是否匀称,任何制样过程和步骤必需有十分好的重复可操作性。不同X射线荧光光谱仪对样品要求不同,不同样品有不同的制样办法。

固体样品假如大小外形合适可以挺直分析,外形不规章可以经过容易的切割达到X荧光光谱仪的要求,只需举行表面处理,液体样品可以挺直分析,大气尘埃通常收集在滤膜上挺直举行分析,而粉末样品的制样办法就比较复杂,通常需要经过压片处理。

X荧光光谱仪的土壤检测分析

X荧光光谱仪的土壤检测分析

       工作曲线的制作和校正根据仪器的操作规程开启仪器,并预热仪器直至仪器稳定。挑选与测试样品基体相匹配的标准样品,根据光谱仪的优化测量条件,用X射线荧光光谱仪测定标准样品中待分析元素的荧光强度,按照标准祥品所给定的标准值和光谱仪所测得的强度制作工作曲线。电子电气产品涉及的材料品种十分之多,分析元素的特征谱线常受到来自测试样品中的基体影响、元素间谱线重叠干扰等因素影响,这些影响因素可通过工作曲线的校正,详细可以通过背景扣除法、基本参数法、阅历系数法等校正办法举行干扰校正。

       待测样品的采谱测定将待测样品放在样品室内举行测试。假如样品是液态、粉末或颗粒,或者只是一很小的样品,它需要在带有不行重复用法薄膜的样品杯里举行测量。操作这个窗口薄膜时,当心不要接触它的表面以免对其造成污染。全部样品必需彻低笼罩光谱仪的测量窗口,对于轻合金起码达到4mm厚,密度较大的合金起码1mm厚,块状塑料1cm厚,粒状塑料放样品杯里2cm厚,液态、粉末基本上填满样品杯。

       使用X荧光光谱仪对多种样品进行分析检测,是一种非常高效的检测方式。
 

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