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什么是偏振X射线荧光光谱仪？

发布时间：2020-10-27 09:28:14 　　　　　　　 点击：4194

       X射线偏振现象是在1906年由R.Barkla首先发现, 1973年Yoyng Dzubay首先把偏振用于EDXRF。21 世纪初相继利用X射线的偏振和衍射性质开发出了纯金属靶、Barkla靶、Bragg靶等二二次靶,与荧光靶一起用作偏振仪的光源, 2003年PANalytical推出了Epsilon 5型偏振仪。


       当X射线与物质相互作用的散射角为90°时就可产生几乎完全偏振的X射线。