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痕量检测我们可以用哪种分析仪器
发布时间：2022-09-02 09:13:04 点击：2434
对于痕量检测，你了解多少？痕量检测（trace analysis），是一种对样品中待测组分含量低于百万分之一的分析方法。适合进行痕量检测的仪器都有哪些？
目前，用于痕量物质检测的仪器主要有原子吸收分析仪（AAS）、石墨炉原子吸收分析仪（GF-AAS）、电感耦合高频等离子体发射光谱仪（ICP-AES）、电感耦合高频等离子质谱仪（ ICP-MS）、波长色散（WDXRF）和能量色散（EDXRF）X射线荧光光谱分析仪。可做痕量检测的以上几种仪器，在分析痕量物质时也有各自的优势，一般单位会根据自己需求进行选择。
AAS分析仪使用成本低，对专业技术要求低，光谱干扰少。但人工调试项目多，当基体成分复杂时，测试精度低。GF-AAS分析仪常规工作可无人自动操作，光谱干扰少，基体干扰多，样品需能完全气化。ICP-AES分析能力强，溶液分析精度高，基体干扰少，可测元素多，但该仪器只能检测溶液。ICP-MS仪测试精度高，分析能力较前者更强，能进行同位素分析，样品也需制成溶液。ICP仪都能进行半定量分析，但当测试高浓度物质时需稀释溶液，再折算到原样品浓度的含量，ICP的测试误差被同时放大，这大大降低了测试精度。但对于工厂的大规模生产而言，以上这些仪器因为制样周期长，并不适合。
X荧光光谱仪与ICP光谱仪
WDXRF 和EDXRF仪测试精度较ICP低一些，分析能力较ICP强一些，但它可直接对块状、液体、粉末样品进行测试，亦可对小区域进行分析，还可分析镀层和薄膜，样品制备简单，分析时间短，分析精度能满足工厂生产的需要，很合适工厂大规模生产。它的弱点是存在光谱干扰，特别是样品中同时存在光谱干扰的几个元素时，XRF就很难辩别这几个元素。
痕量检测作为地球化学、材料科学、生物医学、环境科学、表面科学以及罪证分析等领域重要的检测方法，根据自身实际需求，选择合适的检测仪器。上一篇：直读光谱仪该如何正确检测低碳材料 下一篇：直读光谱仪的谱线强度是怎么决定的
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