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X荧光光谱仪的多种检测模式
发布时间：2022-07-22 10:33:35 点击：2476
X荧光光谱仪利用X射线的检测原理，是一种中型、经济、性能高的光谱仪，对于X荧光光谱仪，其有多种检测模式，我们一起来看一下。
能发现，使用X荧光光谱仪，可以在水泥、钢铁、建材、石化、有色、硅酸盐、煤炭、高岭土、耐火材料、科研、环保等行业进行应用。其利用固定通道，减少了测量时间，另外也适用于荧光产额比较低的轻元素和微量元素上的测定，以此提高仪器的分析精度和灵敏度。X荧光光谱仪是一款相对操作简单，全自动分析操作的仪器，其可实现快速定性、半定量及定量分析。
台式X荧光光谱仪的检验检测
X荧光光谱仪一般认为有三种分析模式，即点分析、线分析和面分析。
点分析：将电子探针固定在试样感兴趣的点上，进行定性或定量分析。该方法用于显微结构的成份分析，例如对材料晶界、夹杂、析出相、沉淀物、奇异相及非化学计量材料的组成等分析。
线分析：电子束沿一条分析线进行扫描（或试样扫描）时，能获得元素含量变化的线分布曲线。如果和试样形貌像（二次电子像或背散射电子像）对照分析，能直观地获得元素在不同相或区域内的分布。沿需要检测的线逐点测量成分，也可以划出该线的成分变化曲线。
面分析：将电子束在试样表面扫描时，元素在试样表面的分布能在CRT上以亮度分布显示出来（定性分析），亮度越亮，说明元素含量越高。研究材料中杂质、相的分布和元素偏析常用此方法。面分布常常与形貌像对照分析。
针对不同检测场景和检测环境，对样品进行不同的检测模式。上一篇：X荧光光谱仪助力新能源汽车的环保 下一篇：直读光谱仪在汽车工业中的应用
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