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X荧光光谱仪的矿石检测前处理
发布时间：2022-11-09 09:09:09 点击：2457
X荧光光谱仪的检测，可针对矿石品位做针对性的分析检测，为获取有效的分析数据，对矿石样品需要做前处理。将整块的矿石粉碎处理，并将矿石粉末压制成片。
矿石的粉碎处理，可用玛瑙或碳化钨研钵人工研磨，现在较多使用机械振动磨或球磨机，效率很高。一般样品均可粉碎至74μm以下（通过200目筛子）。随着粉碎时间的延长，颗粒度减小到一定程度不再变细，如果继续粉碎，反而会发生“团聚”现象。要提高粉碎效率，可以加入固体或液体助磨剂。粉碎时间越长，粉碎容器带来的污染越严重，因此，选择一种合适的粉碎容器很重要。要比较这种污染，可以分析一种很硬的物质（如石英）经粉碎后的污染情况，或对比两种不同粉碎方法的分析结果。在分析痕量元素时，为了提高分析的灵敏度和准确度，这是非常必要的。还有一种污染，是不同粉碎试样间的相互污染。每次粉碎后都要保证容器清洗干净，当样品量较多时，粉碎前可用少量样品预“清洗”两次。
矿石样品的前处理重要性
在将样品粉碎处理后，就需要采用压片处理。压样设备常见的有手动或电动液压机，粉末样品装入铝杯或铝环（或塑料环）中，在相应的模具中加压成型。在真空光谱仪中，粉末压片可能会含有空气或其它气体而发生溅射，既破坏了试样表面，又污染了样品室。可先在真空中压制成块，或在氦气光路中测量。为了减少压入片内空气的量，在装样时可轻拍样品，加压时要逐步增大压力，同时还要保压一定的时间。
X荧光光谱仪分析是一种表面分析，尤其对于轻元素，分析时有效层厚度只有几个至十几个μm，表面的污染是致命的问题，同时还要求表面平滑。所以每次压片后都要把模具的表面洗净，隔一段时间还要对塞柱表面（对应于样片被测面）适当抛光。试样在保存过程中也要防止表面污染、表面破损、吸潮、氧化、吸附空气等。压片后尽快测量，对于标样、管理样等需长期保存的试样，以粉末状态密封保存较好，需要时临时压片。
矿石样品的前处理，是作为X荧光光谱仪分析的重要步骤，注意粉碎及压样的过程，将为你获取更稳定的检测数据。上一篇：移动式光谱仪的管道检测方法 下一篇：直读光谱仪透镜清洁方法
