服务支持Service
To first-class products
Quality service to meet customer needs
国内市场部
0510-83205379
24小时服务
国际贸易部
0510-68795132 15106177808
传 真：0510-83213469
E-mail：wuxi@chxyq.com
地 址：江苏省无锡市滨湖区梁通路19号免费咨询热线:
400-0833-980
手持式光谱分析仪的理论系数法
发布时间：2020-09-02 09:01:19 点击：3916
理论系数法是通过理论计算元素之间影响系数，进而对基体进行一定程度上的校正。常规理论系数法一般是通过质量吸收系数来计算元素之间影响系数,只考虑了吸收效应，没有考虑增强效应，因此校正效果有一定偏差，准确度弱于FP法。软件可通过理论强度来计算影响系数，同时考虑了吸收和增强效应，准确度与FP法相当。
手持式光谱分析仪
背景FP法
XRF准确分析的前提是待测样必须是与标样一致的规范样品，即块状、表面光滑。当在实际应用中待测样可能是各式各样非规范样品(比如粉末、颗粒、矿石等)，来不及或不能制样。如果直接测会产生相当大的误差,这是工作曲线法、经验系数法、理论系数法或者常规FP法无法胜任的。
X射线照射样品，除产生荧光外还发生散射形成背景。散射有两种:康普顿散射和瑞利散射。通过分别计算这两种散射的散射系数得到背景散射强度,导入到荧光FP法中去，进行散射(背景)校正，这就是背景FP法。
以上的两种方法是手持式光谱分析仪在运行中所考虑修正误差的方法，是手持式光谱分析仪器保持精度的关键。
上一篇：X射线荧光分析仪器镀窗厚度的影响 下一篇：X射线荧光光谱仪有哪些改进方向？
