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荧光光谱分析中的X射线光谱分析简述
发布时间：2018-06-20 17:04:32 点击：7432
因为不同特征X射线存在于不同元素中，而根据特征谱线的波长，可以判定元素的存在，根据谱线的强度，又可进定量分析。而前者在原子物理学中则被称之为定性分析法，后者被称之为定量分析法。
每一种元素都有其特定波长的特征X射线。试样受X射线照射后,其中各元素原子的内壳层(KL或M层)电子被激发逐出原子而引起电子跃迁,并发射出该元素的特征X射线荧光。元素特征X射线的强度与该元素在试样中的原子数量(即含量)成比例,因此,通过测量试样中某元素特征X射线的强度,采用适当的方法进行校准与校正,便可求出该元素在试样中的百分含量,也就是所谓的定量分析。
X荧光光谱分析分析范围很广，可从Be-U,而且对分析试样的物理状态不作要求，像固体、粉末、晶体、非晶体都可作为试验对象。也不受元素的化学状态的影响。重要的是它属于物理过程中的非破损性分析，是一种试样不发生化学变化的无损分析方法。它还可以对均匀试样进行表面的分析。
X荧光光谱分析被应用于很多领域，比如地质、冶金、矿山、电子机械、石油、化工、航空、航天材料、农业、生态环境、建筑材料、商检等领域的材料化学成分分析，它的直接分析对象有以下几种:
1.固体3.稀土
总之，由于X荧光光谱分析因其检测速度快、小巧、精准、无损等优势逐渐被众多企业所接受。
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